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      产品型号:SX1944型数字式四探针测试计
       
      产品说明
           四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。广泛用于半导体厂家、太阳能行业,还能满足科研单位的精密研究。  
       
      产品特点
          四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试专用仪器。  
        仪器以大规模集成电路为核心部件,采用旋扭式开关控制,及各种工作状态LED指示。应用微计算机技术,使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。
       
      产品外观
       
       
      详细参数
      型号
      SX1944
      测量范围
      电阻率:10-4~105Ω-cm 方块电阻:10-3~106Ω/□ 电阻:10-4~105Ω
      可测半导体材料尺寸
      直径:Φ15~100mm
      测量方位
      轴向、径向均可
      数字电压表
      ⑴量程: 200mV
      ⑵误差:± 0.1% 读数± 2 字
      ⑶最大分辨力:10μV
      显示 : 4位半数字显示。小数点自动显示
      数控恒流源
      ⑴电流输出:直流电流 0 ~ 100mA 连续可调,由交流电源供电。
      ⑵量程: 1 μ A , 10 μ A , 100μA , 1mA , 10mA , 100mA
      ⑶误差:± 0.5% 读数± 2 字
      四探针测试探头
      ⑴探 针 间 距: 1mm
      ⑵探针机械游移率: ± 1.0%
      ⑶探 针: 碳化钨,Φ 0.5mm
      ⑷压 力: 0 ~ 2kg 可调 , 最大压力约 2kg
      电源

      输入 : AC 220V ± 10% 50Hz 功 耗: <20W

      外形尺寸
      主机 260mm (长)× 210 mm (宽)× 125mm (高)
      备注
      USB 接口,配软件
       
         
      典型用户
       
      清华大学
      重庆大学
      江苏顺大半导体有限公司
      北京大学
      黑龙江大学
      天津中环半导体股份有限公司
      上海交大
      兰州大学
      金华美晶硅电子有限公司
      华东理工大学
      江西赛维LDK太阳能高科技有限公司
      中国振华集团
      大连理工大学
      无锡尚德太阳能电力有限公司
      中电四十六所
      成都电子科大
      宁波太阳能电源有限公司
      大连化工物理所
       
       
       
       
       
      本公司已通过ISO9001:2000、CE认证及全系列医疗器械许可注册
       
      厂 址
      苏州市工业园区通园路企鸿路31
      电 话
      051262522538
      开户行
      苏州工行观前支行
      传 真
      051262522938
      帐 号
      1102020109000157541
      邮 编
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